() 해외배송 가능
판매가 | 문의 |
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무이자할부 | |
제조사 | Kenis |
원산지 | Japan |
형번 | |
수량 | |
국내/해외배송 |
3-311-840 SWT-8000Ⅱ
3-311-841 SWT-8200Ⅱ
● 측정 대상물에 맞춰, 전자식 프로브 및 와전류식 프로브를 접속 할 수 있는 등 본체와 프로브를 자유롭게 조합 할 수 있습니다.
● 슬림한 디자인 설계이므로, 소지해서하는 작업의 피로를 줄일 수 있습니다.
형식 |
SWT-8000Ⅱ |
SWT-8200Ⅱ |
표시방식 |
그래픽 LCD (데이터, 메시지) | |
검량선교정 |
2점 교정식(제로점, 표준조정점) | |
검량선메모리 |
철 · 비 철용 각 1개 |
10개 |
측정값메모리 |
- |
10,000점 |
데이터전송 |
- |
USB |
데이터통계기능 |
- |
본체내장 |
부가기능 |
키 입력 잠금, 오토파워오프(약3분), 측정모드 전환 (홀드/연속) 표시 분해능 전환, 검량선, 교정값 삭제, 상하한값 설정(8200Ⅱ만) | |
전원 |
단3전지×2(부속) 또는 전용AC어댑터(SWT-8200Ⅱ만) | |
크기 |
72×30×156mm, 약200g | |
부속 |
수납케이스 |
수납케이스,AC어댑터,USB케이블(2.0m), USB드라이버(CD) |
※ 프로브는 포함되어 있지 않습니다. 아래에서 선택해주세요.
[옵션] Coating Thickness Meter SWT용 프로브
코드 |
3-310-845 |
3-310-846 |
3-310-847 |
형식 |
Fe-2.5 |
NFe-0.6 |
NFe-2.0 |
측정방식 |
자기유도식 |
와전류식 | |
측정범위 |
0~2.50mm |
0~0.6mm |
0~2.00mm |
표시분해능 |
0~400μm: 0.1μm, 400~500μm: 0.5μm | ||
500~999μm: 1μm 1.00~2.50μm: 0.01㎜ |
500~600μm: 1μm |
50~999μm: 1μm 1.00~2.00μm: 0.01mm | |
측정정밀도 |
0~100μm: ±1μm 또는 지시값의 ±2%이내, 기타: ±2%이내 | ||
프로브 |
1점정압접촉식, V컷 포함 | ||
부속 |
표준판자, 테스트용제로판(철용) |
표준판자, 테스트용 제로판(비 철용) |
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