3-316-100 OURSTEX170
● X선관에서 일차X선을 시료에 비춰서 발생하는 형광X선을 반도체 검출기로 측정함으로써 비파괴로 원소의정성, 정량분석을 행할 에너지 분산형 형광X선 분석장치입니다.
● 액체 질소와 가스, 냉각수 등을 사용하지않는 SDD 검출기 탑재 타입입니다. 과도한 기능을 생략하고, 소형, 경량으로 휴대가 간편합니다.
● 토양 분석, 귀금속 품위 분석, 경 원소 분석, 수용액 분석, 불순물 분석 등 폭넓게 할 수 있습니다.
● 고체(판상)면 그대로, 액체, 분체인 경우 전용시료 홀더에 샘플을 넣는 것만으로 측정 할 수 있습니다.
● 본 제품의 도입 · 구입에 관해서는 사전에 설치하는 지역의 노동 기준 감독서에 신고가 필요합니다.
[옵션]
3-316-101 시료홀더 필름 (시료홀더용 필름, 시료부 창문용 필름 100개입)
[사양]
측정원리 |
에너지분산형 형광X선 분석법 |
측정대상 |
고체,분체,액체 |
측정원소 |
Na~U(Na~Ar:진공펌프사용시만) |
고정필터 |
1차필터기구 |
시료실 형태 |
165φ×60㎜ (분위기 : 대기) |
X선정규출력 |
50kV 0.2mA (최대) |
검출기 |
실리콘 드리프트 검출기 |
계수회로 |
디지털 시그널 프로세서 |
사용환경 |
온도 : 5 ~ 27 ℃ 습도 : 20 ~ 75 % (결로없음) |
전원 |
AC100V 50/60Hz (D종 설치) |
크기 |
312 × 279.5 × 180㎜ 약9㎏ |
부속 |
진공 펌프 CMOS 카메라 FP 법 소프트 노트북 케이스 |
※ 진공 펌프는 포함되어 있지 않습니다. 별도 준비해주십시오.
※ 설치, 설치, 분석지도 등은 별도 비용이 필요합니다. 자세한 내용은 별도 문의 바랍니다.
- 도서/산간 지역의 경우 별도의 추가금액을 발생하며 비용은 고객님 부담입니다.
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